Корпоративный блог компании

Радиационные методы обнаружения трещин и дефектов, а также нарушений внутренней конфигурации и взаимного расположения деталей, не доступных для осмотра при изготовлении, сборке, ремонте и эксплуатации, применяются для контроля слитков и отливок, сварных соединений, паяных и клепаных соединений, железобетонных изделий, неразъемных деталей самолетов, агрегатов и узлов конструкций.

ГОСТ 20426-82 на радиационные методы классифицирует их по принципу регистрации и наблюдения дефектов, а не по принципу жесткости излучения: радиографический (рентгеновское, гамма- и бета-излучение); электрорадиографический (рентгеновский); радиоскопический (рентгеновский,бетатронный); радиометрический (применение рентгеновских аппаратов, радиоактивных источников, бетатронов).

Радиационные методы выявляют подповерхностные и внутренние трещины и дефекты в деталях из любых материалов на основе ослабления или усиления ионизирующего изучения, вызванного дефектом и зафиксированного преобразователями излучений: радиографической пленкой,фотобумагой, электрорадиографической пластиной, флуороскопическим экраном, сцинтилляционньш монокристаллом с электронно-оптическим преобразователем, рентгенотеле-визионной установкой с рентгеновидиконом, с помощью ксерографии.

Акустические ульразвуковые (УЗ) методы и их разновидности эффективно применяют для обнаружения, измерения и определения координат трещин и дефектов. На их основе созданы и серийно выпускаются УЗ-дефектоскопы, интроскопы, полуавтоматические системы массового контроля. В УЗ-дефектоскопах используют методы, различающиеся по принципу действия и устройству приборов, а также по характеру измеряемых величин и мест расположения искателей (пьезодатчиков).

Теневой метод (метод сквозного прозвучивания, метод звуковой тени) впервые был предложен в 1928 г. С.Я. Соколовым). Излучатель и приемник размещают по разным сторонам изделия. Трещина или другой, дефект, находясь на пути ульразвуковой волны, ослабляет ее энергию (поглощает или рассеивает), что регистрируется приемником и определяется индикатором.

Дата: 24 октября 2011